| 型号：SN74BCT8373ANTE4 | 类别：逻辑 - 专用逻辑 | 制造商：Texas Instruments |
| 封装：24-DIP（0.300"，7.62mm） | 描述：IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP | |
详细参数
| 类别 | 逻辑 - 专用逻辑 |
|---|---|
| 描述 | IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP |
| 系列 | 74BCT |
| 制造商 | Texas Instruments |
| 逻辑类型 | 扫描测试设备，带 D 型锁存器 |
| 电源电压 | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 位数 | 8 |
| 工作温度 | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型 | 通孔 |
| 封装/外壳 | 24-DIP（0.300"，7.62mm） |
| 供应商器件封装 | 24-PDIP |
| 包装 | 管件 |
供应商
| 深圳市毅创腾电子科技有限公司 | 王小姐86-755-83616256 // 83210909 |
| 北京显周科技有限公司 | 刘先生13910052844（微信同步） |
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